El servicio proporciona herramientas fundamentales para la observación y análisis de microorganismos o sus microestructuras. El asesoramiento y soporte técnico permanente por parte del personal del servicio facilita las tareas científicas.
El servicio está abierto a una amplia comunidad científica, incluido el ICM y otros centros del CSIC, organismos públicos de investigación y empresas privadas.
La calibración del microscopio electrónico de barrido se realiza con regularidad. Dispone de estándares de calibración certificados por el Instituto Nacional de Estándares (NIST) de EE.UU y por el Laboratorio Nacional de Física (NPL) del Reino Unido, que cumplen con la norma ISO-9000.
Se realiza una revisión anual por parte del personal técnico oficial de Hitachi (ISO-9001) para certificar el correcto funcionamiento.
Prestación del servicio bajo petición y disponibilidad.
- Microscopio electrónico de barrido FE-SEM HITACHI SU8600, con capacidad de transmisión (STEM), equipado con dos detectores de electrones secundarios, en la columna y en la cámara, dos detectores de electrones retrodispersados, en la columna y en la cámara, y 2 espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) BRUKER QUANTAX G7 XFlash 730 SDD con área activa de 30 mm2 y resolución de energía de 123 eV. Ayuda EQC2021-007134-P financiada por MCIN/AEI/10.13039/501100011033 y Unión Europea NextGenerationEU/PRTR.
- Microscopio electrónico de barrido HITACHI S-3500N de presión variable (VPSEM). Está equipado con un detector de electrones secundarios, un detector de electrones retrodispersados, un detector de electrones secundarios específico para trabajar en modo de presión variable, un EDS BRUKER QUANTAX 200 XFlash 6/30 SDD con área activa de 30 mm2 y resolución de energía de 123 eV, y un sistema Cryo-SEM QUORUM PP3000T para el estudio de muestras crio-fijadas.
- Desecador de punto crítico LEICA EM CPD300.
- QUORUM Q150R S, sistema para recubrimiento por sputtering (Au)
- QUORUM 150T ES Plus, sistema para recubrimiento por sputtering (Cr) y turbo evaporador (C).
- ZONE SEM II, limpiador de muestras por UV.
- 8 microscopios ópticos (OLYMPUS-BX40F4, OLYMPUS-BX61, LEITZ-DM IL, 2 NIKON-DIAPHOT-200, ZEISS-AXIOVERT, LEICA-DM IRB S8F, ZEISS-Colibri), la mayoría equipados con epifluorescencia, y 5 lupas OLYMPUS. Algunos microscopios y lupas están conectados a diferentes sistemas de análisis de imágenes.
- Micrótomo LEICA HistoCore AUTOCUT.