Servicio

Microscopía electrónica y óptica

El servicio proporciona herramientas fundamentales para la observación y análisis de microorganismos o sus microestructuras. El asesoramiento y soporte técnico permanente por parte del personal del servicio facilita las tareas científicas.

El servicio está abierto a una amplia comunidad científica, incluido el ICM y otros centros del CSIC, organismos públicos de investigación y empresas privadas.

La calibración del microscopio electrónico de barrido se realiza con regularidad. Dispone de estándares de calibración certificados por el Instituto Nacional de Estándares (NIST) de EE.UU y por el Laboratorio Nacional de Física (NPL) del Reino Unido, que cumplen con la norma ISO-9000.

Se realiza una revisión anual por parte del personal técnico oficial de Hitachi (ISO-9001) para certificar el correcto funcionamiento.

Prestación del servicio bajo petición y disponibilidad.

Equipo y recursos técnicos
  • Microscopio electrónico de barrido HITACHI S-3500N, un SEM de presión variable (VPSEM). Está equipado con un detector de electrones secundarios, un detector de electrones retrodispersados ​​y un detector de electrones secundarios específico para trabajar en modo de presión variable.
  • Espectrómetro de rayos X de dispersión de energía (EDS) BRUKER QUANTAX 200, mejorado con opciones adicionales, para realizar microanálisis de rayos X. Detector XFlash 6/30 SDD con área activa de 30 mm2 y resolución de energía de 123 eV.
  • Cryo-SEM QUORUM PP3000T para el estudio de muestras crio-fijadas.
  • Desecador de punto crítico LEICA EM CPD300.
  • Metalizador (por sputtering) QUORUM Q150R S.
  • 8 microscopios ópticos (OLYMPUS-BX40F4, OLYMPUS-BX61, LEITZ-DM IL, 2 NIKON-DIAPHOT-200, ZEISS-AXIOVERT, LEICA-DM IRB S8F, ZEISS-Colibri), la mayoría equipados con epifluorescencia, y 5 lupas OLYMPUS. Algunos microscopios y lupas están conectados a diferentes sistemas de análisis de imágenes.

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