El servei proporciona eines fonamentals per a l'observació i anàlisi de microorganismes o les seves microestructures. L'assessorament i suport tècnic permanent per part del personal del servei facilita les tasques científiques.
El servei està obert a una àmplia comunitat científica, inclòs l’ICM i altres centres del CSIC, organismes públics de recerca i empreses privades.
La calibració del microscopi electrònic de rastreig es realitza amb regularitat. Disposa d’estàndards de calibració certificats per l'Institut Nacional d'Estàndards (NIST) dels EUA i pel Laboratori Nacional de Física (NPL) del Regne Unit, que compleixen amb la norma ISO-9000.
Es realitza una revisió anual per part del personal tècnic oficial de Hitachi (ISO-9001) per a certificar el correcte funcionament.
Prestació del servei sota petició i disponibilitat.
- Microscopi electrònic de rastreig FE-SEM HITACHI SU8600, amb capacitat de transmissió (STEM), equipat amb dos detectors d'electrons secundaris i dos detectors d'electrons retrodispersats, a la columna i a la cambra, i 2 espectròmetres de raigs X de dispersió d'energia (EDS) BRUKER QUANTAX G7 XFlash 730 SDD amb àrea activa de 30 mm2 i resolució d'energia de 123 eV. Ajuda EQC2021-007134-P finançat per MCIN/AEI/10.13039/501100011033 i Unió Europea NextGenerationEU/PRTR.
- Microscopi electrònic de rastreig HITACHI S-3500N, un SEM de pressió variable (VPSEM) equipat amb un detector d'electrons secundaris, un detector d’electrons retrodispersats, un detector d'electrons secundaris específic per a treballar en mode de pressió variable, un espectròmetre de raigs X de dispersió d'energia (EDS) BRUKER QUANTAX 200 XFlash 6/30 SDD amb àrea activa de 30 mm2 i resolució d'energia de 123 eV, i un sistema Cryo-SEM QUORUM PP3000T per a l'estudi de mostres crio-fixades.
- Dessecador de punt crític LEICA EM CPD300.
- QUORUM Q150R S, sistema per a recobriment per polvorització (Au).
- QUORUM 150T ES Plus, sistema per a recobriment per polvorització (Cr) i turbo evaporador (C).
- ZONE SEM II, netejador de mostres per UV.
- 8 microscopis òptics (OLYMPUS-BX40F4, OLYMPUS-BX61, LEITZ-DM IL, 2 NIKON-DIAPHOT-200, ZEISS-AXIOVERT, LEICA-DM IRB S8F, ZEISS-Colibri), la majoria equipats amb epifluorescencia, i 5 lupes OLYMPUS. Alguns microscopis i lupes estan connectats a diferents sistemes d'anàlisis d'imatges.
- Micròtom LEICA HistoCore AUTOCUT.
Contacte: sem@icm.csic.es